粉末电阻率测试仪/半导体粉末电阻率测试仪     型号；MHY-23089

 MHY-23089半导体粉末电阻率测试仪本产品参照有关标准设计，配置粉末测试台或四探针测试台，可以对粉末、片状、块状半导体材料以 及固态金属行电阻、电阻率、方块电阻等多用途测量。

测量范围：电阻10^-4---10⁶，分辨率1μΩ. ㎝。

          电阻率 10^-4---10⁶，分辨率1μΩ. ㎝。

          薄层电阻  10^-3 ---- 10⁷ Ω/□ ，分辨率10^-5  Ω/□。

测量电压量程：0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v，分辨率0.1μν，测量度  ±（0.3%读数+2字）。

测量电流：0--100mA 连续可调。电流量程 1μΑ、10μΑ、100μΑ、1mΑ、10mΑ、100mΑ。

粉末测量：1、试样粒度--标准筛网40目以上直至纳米材料。 2、试样容器---内腔φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3、试样度---16mm±0.5mm或6~20mm±0.1mm。测量误差±0.1mm。4、取样压力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm² ±0.5kg/cm²  )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm²   ±0.75kg/cm² )，压力量程--0~200kg可调。

固体薄膜及半导体测量：四探针测试架---1、探针间距1mm±0.03mm；2、探针游移率﹤±0.3%；3、可测材料尺寸--直径φ15~160mm，长度〈400mm。

显示方式：3½位数字显示电阻、电阻率、压力、度。单位、小数点自动显示。

电源：220±10%  50HZ~60HZ  率消耗〈150W。

外形尺寸： 440mm×120mm×420mm。